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TEM数据分析之高分辨像显示位错特征的方法
科研探索科技     2020-12-14 微信扫码分享  
材料研究的基本任务就是根据材料实际使用所需的性能来设计成分和工艺,以期获得理想的微观组织。材料的微 观组织直接决定了材料的性能,因此根据材料的微观组织,我们就能分析和判断材料的性能好坏;同时,材料的微观组织取决于成分和工艺,因此根据材料的微观组织能分析和判断成分和工艺设计是否合理。无疑,材料微观组织的表征,包括材料的微区成分、点阵结构和组织形貌的分析,尤其是三位一体的原位分析极为重要。至今,只有透射电子显微镜具有三位一体原位分析的功能。因此,掌握透射电子显微学的基本理论和实验技术对于将要和正在从事材料研究的科学工作者是非常必要的。位错是对材料力学性能影响最重要的晶体缺陷。为了确定位错的种类,通过高分辨图像可以看到相关的信息,本章综合高分辨像的信息来讲解如何通过高分辨像来确认位错的类型,对材料微观结构的深入解读,进而试图揭示宏观性能;同时可以为改善性能提供思路。
TEM数据分析及应用
1、对TEM材料分析设备的原理和数据分析方法讲解; 2、分享TEM测试样品的制备方法; 3、介绍正向标定TEM衍射花样的方法-高效准确的标定; 4、与TEM有关最新科研动态。
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