| 玩转AFM测试 |
| 3.1 afm样品基底的制备 |
课时安排
共计4节,每节课50分钟讲解+10分钟答疑。
课程内容
第一讲 AFM 的基础知识及工作原理
1.1 认识微观世界的重要工具——显微镜
1.2 AFM 的发展历史
1.3 AFM 成像的基本原理
1.4 AFM 的仪器组成
1.5 AFM 成像的应用及示例
1.6 AFM 的优势与不足
第二讲 AFM 针尖基础及 AFM 工作模式
2.1 AFM 针尖基础
2.1.1 探针与样品间的作用力
2.1.2 针尖类型及选择
2.2 AFM 工作模式简介
2.3 几种成像模式的原理及优缺点
2.3.1 Contact 模式
2.3.2 Tapping 模式
2.3.3 Peak-force 模式等
第三讲 AFM 其它应用简介及 AFM 样品的制备
3.1 AFM 其它应用简介
3.1.1 力学性能测量
3.1.2 电学性能测量
3.1.3 磁学性能测量
3.2 AFM 样品的制备
3.2.1 纳米粉体材料
3.2.2 块体材料
3.2.3 大分子
3.2.4 细胞
3.3 AFM 数据处理及分析
第四讲 AFM 数据处理分析及常见图像假象
4.1 AFM 数据处理分析
4.2 AFM 常见图像假象
4.2.1 针尖因素
4.2.2 样品因素
4.2.3 扫描参数因素
讲师介绍
曹老师,2008年中国科学院博士毕业,211高校从教至今。主要从事分子自组装及纳米生物材料的开发应用研究,承担国家自然科学基金面上项目及青年基金项目多项,省部级项目及横向项目等十余项;发表SCI学术论文70余篇,收录在Coordin. Chem. Rev., ACS Appl. Mater. Interface Sci., J. Mater. Chem. A, Biomacromolecules, Langmuir等期刊;申请发明专利16项,授权9项。曹老师从硕/博士开始一直从事原子力显微镜的测试与表征,并进行仪器的管理和维护工作,在此领域具有丰富的经验。
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1.1 显微镜
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1.2 AFM发展历史
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1.3 AFM原理和仪器简介
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1.4 AFM优势与不足
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1.5 AFM应用介绍
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1.6 第一节课答疑
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2.1 探针与样品之间的相互作用力
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2.2 AFM三种工作模式简介
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2.3 接触式扫描方式
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2.4 非接触扫描方式
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2.5 轻敲模式及其他模式
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2.6 探针的构造
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2.7 探针的类型
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2.第二节课答疑
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3.1 afm样品基底的制备
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3.2 纳米粉体材料制备
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3.3 块体材料制备
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3.4薄膜材料样品制备
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3.5 大分子、生物样品
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3.6 侧向力显微镜应用
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3.7 电学测量模式
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3.8 力学测试模式
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3.9 第三节课答疑
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4.1 afm数据处理及分析
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4.2 AFM图像分析
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4.3 AFM图像假象处理
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4. 第四节答疑
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