无机-有机杂化材料由于其简单的合成路线和可定制的性质，在新报道的结构中占很大比例。这种扩散导致了表征瓶颈：许多杂化材料是具有低对称性和严重辐射敏感性的专性微晶，干扰了单晶X射线衍射和电子显微衍射的标准技术。在这里，美国康涅狄格大学J. Nathan Hohman 教授等人展示了小分子系列飞秒X射线结晶学（smSFX）用于测定微晶材料的晶体结构。研究人员现结果汇总成高分辨率粉末衍射图来确定单位晶胞。在通过图论方法索引稀疏序列图案之后，可以使用单晶衍射数据的标准工具来求解和细化生成的数据集。研究人员描述了mithrene（AgSePh）、硫烯（AgSPh）和特戊二烯（AgTePh）的从头算结构溶液，其中后两种是以前未知的结构。在硫烯中，他们发现Ag-Ag键网络的几何变化与其不同的光电特性有关，证明了smSFX可以作为一种在近环境温度和压力下测定光束敏感微晶材料结构的通用技术。研究成果以“Chemical crystallography by serial femtosecond X-ray diffraction”为题发表于Nature。