异质界面处平移对称性的破坏导致了界面处新的声子模的出现。这些模式在器件的热传输和电传输特性中具有重要作用，特别是在接口可能主导器件整个响应的微型器件中。虽然相关的理论工作早在几十年前就开始了，但由于在实现探测局域模式所需的空间、动量和光谱分辨率方面存在挑战，实验研究完全缺失。在这里，北京大学高鹏研究员等使用四维电子能量损失谱技术，直接测量了外延立方氮化硼/金刚石异质界面的局域振动谱和界面声子色散关系。除了体声子模外，作者还观察到界面处的局域模和与界面隔离的模。这些特征仅出现在界面周围约一纳米范围内。本文中观察到的局域模对界面热导率和电子迁移率有很大的影响。作者的发现提供了对异质界面晶格动力学的深入了解，所证明的实验技术应该在热管理、电子工程和拓扑声子中有用。该文章以“Measuring phonon dispersion at an interface”为题发表在知名期刊Nature上。