从上世纪七十年代开始,基于同步辐射的X射线吸收谱学技术逐渐发展成熟起来,并迅速成为研究凝聚态物质结构的新工具,尤其是在多相催化领域有重要应用。其中,X射线精细结构吸收谱(XAFS),包括近边吸收结构(XANES)和拓展边吸收结构(EXAFS),已经成为材料科学和催化领域重要的表征工具。XAFS技术对中心吸收原子的局域结构和化学环境十分敏感,因而能够在原子尺度上表征某原子邻近几个配位壳层的结构信息,如配位原子的种类、配位数、无序度、与中心原子的距离、氧化态等。除了同步辐射技术外,荧光XAFS也可以用于研究百万分之几低浓度的样品和几个原子层厚度的薄膜样品,磁XAFS用于研究材料的电子自旋状态,高温和高压的原位XAFS研究材料的相变过程,空间分辨XAFS研究材料的微区结构,时间分辨XAFS研究反应的动力学等。
2021年09月27日 11:54
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