近日，剑桥大学Clare P. Grey教授、Akshay Rao教授、Christoph Schnedermann教授等人利用最新开发的Operando光学散射显微镜技术来探索高达30C的充电倍率，并直接在单粒子水平上可视化异质性。研究人员研究了Nb₁₄W₃O₄₄（NWO），直接观察粒子的伸长，与系综X射线衍射相比，能够确定单个粒子的电荷状态的变化。散射强度随荷电状态的连续变化使得能够观察单个粒子内的非平衡动力学相分离，即单个粒子内SOC的非平衡空间变化，两者都在低锂含量的早期锂化阶段和高锂含量的快速（>5C）脱锂阶段。这些结果证明了光学散射显微镜跟踪快速非平衡过程的能力，而这些过程是现有表征技术无法实现的。相关研究成果以题为“Operando monitoring of single-particle kinetic state-of-charge heterogeneities and cracking in high-rate Li-ion anodes”发表在知名期刊Nature Materials上。